Elektrondiffraktion (EBSD)

EBSD (Electron Back Scatter Diffraction) är en analysteknik som används för att studera mikrostruktur, kristallorientering, dislokationstäthet, deformationstvillingar och ingående faser i ett material. Vid en EBSD-analys tiltas provet 70° mot diffraktionskameran och bestrålas med elektroner. En del av elektronerna som träffar provet kommer att spridas tillbaka ut igen och dessa detekteras av en fosforskärm. Elektroner som lämnar provet och uppfyller Bragg-diffraktionskriterierna för ett specifikt plan detekteras med en intensitetsskillnad som skapar så kallade Kikuchiband. Dessa ger information om kristallen som elektronerna spridits ifrån. Genom att låta elektronstrålen svepa över provets yta fås information från ett större område och materialets struktur kan analyseras.

  • Instrument: NordlysF

  • Tillverkare: Oxford Instruments HKL

  • Mäter: Diffraktionsmönster av tillbakaspridda elektroner

  • Resultat: Mikrostruktur, kornorientering och faser

Resultat (Exempel)

Elektrondiffraktionsbild (EBSD) av ett verktygsstål. Olika färger representerar olika kornorientering i materialet.