Interferensprofilometri2018-09-01T06:35:56+00:00

Interferensprofilometri

Denna analysteknik används för att kontaktlöst studera en ytas topografiska utseende. Provet belyses med vitljus och interferensen av reflekterade ljusstrålar mäts.  Genom att variera avståndet till provet i höjdled och svepa över en yta skapas en 3D-avbildning av ytan. Typiska användningsområden är analyser och mätningar av ytfinhet (Ra-värde) hos maskinbearbetade detaljer, ytprofiler samt djup och storlek hos ytdefekter och nötta ytor. Vi kan analysera allt ifrån mycket släta ytor med nanometeravvikelser till grova ytor med millimeterstora avvikelser.

Wyko interferensprofilometer
  • Instrument: Wyko NT9100

  • Tillverkare: Vision

  • Mäter: Interferensspektrum av vitljus

  • Resultat: Ytprofil, ytfinhet (Ra-värde), djup och storlek av defekter.

Resultat (Exempel)

3D-avbildning av stenskott i färgbelagd plåt.

Repa i metallbelagd plåt.

Vi använder kakor för att ge en bra användarupplevelse. Genom att fortsätta använda vår webbplats godkänner du kakor. Jag förstår