Interferensprofilometri
Denna analysteknik används för att kontaktlöst studera en ytas topografiska utseende. Provet belyses med vitljus och interferensen av reflekterade ljusstrålar mäts. Genom att variera avståndet till provet i höjdled och svepa över en yta skapas en 3D-avbildning av ytan. Typiska användningsområden är analyser och mätningar av ytfinhet (Ra-värde) hos maskinbearbetade detaljer, ytprofiler samt djup och storlek hos ytdefekter och nötta ytor. Vi kan analysera allt ifrån mycket släta ytor med nanometeravvikelser till grova ytor med millimeterstora avvikelser.
Instrument: Wyko NT9100
Tillverkare: Vision
Mäter: Interferensspektrum av vitljus
Resultat: Ytprofil, ytfinhet (Ra-värde), djup och storlek av defekter.
Resultat (Exempel)
3D-avbildning av stenskott i färgbelagd plåt.
Repa i metallbelagd plåt.
